随着集成电路设计和制造技术的发展､一个集成电路芯片上可能集成了上千万个甚至更多的元件｡由于上面提到的 ...

探针台一般会联用到一些源表､对测试对象输入输出电流电压､从而达到一些电学测试目的｡静态电参数测试对于 ...

在进行探针台､测试机等设备的电路测试前､我们需要了解集成电路的基本性能指标､特别是电性能和电参数､它 ...

探针卡板上的探针与管芯的被测端(压焊点)相连､使得探针台能够对这些部位进行测量｡通常情况下､探针卡板 ...

对于集成电路晶圆测试来说､通常要经过以下几个工艺步骤￤1.合格晶圆接收；2.晶圆烘焙；3.晶圆测试； ...

集成电路测试系统在执行过程中､通过以下几个步骤来得出测试结果￤1･测量值记录方法通过探针台等测试收到 ...

集成电路的性能和特性主要受到电路设计和制造工艺的影响､同时也与电路的工作条件､如电源电压､环境温度等 ...

集成电路缺陷､故障和失效是集成电路设计和制造过程中的重要概念｡在研发阶段用探针台来检测是比较常见的｡ ...

光谷薄膜作为探针台､冷热台､液氮低温恒温器设备研发制造商､业密切关注着集成电路产业发展动态､为个高校 ...

在产业链中､集成电路测试可分为两大类别￤集成电路晶圆测试和集成电路成品测试､这两者主要依据所处的产业 ...