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2024-08

探针台定义:一种用于对半导体器件进行电性能测试的设备

探针台(Probe Station)是一种用于对半导体器件进行电性能测试的设备。探针台是一种用于半导 ...

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2024-05

针对集成电路链接探针台等设备外引脚有限的可测性设计方法

电路测试方法包括模块划分、增加控制线及观察点、消除电路中的冗余逻辑等。下面以实际电路为例具体介绍两种 ...

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2024-05

集成电路伪穷举测试可减少探针台等设备总测试次数

伪穷举测试是集成电路测试技术中的一种方法、它可以大大减少探针台等设备总的测试次数和时间。伪穷举测试具 ...

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2024-04

探针台等设备在集成电路中静态、动态电参数测试方法

探针台一般会联用到一些源表、对测试对象输入输出电流电压、从而达到一些电学测试目的。静态电参数测试对于 ...

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