探针卡板上的探针与管芯的被测端(压焊点)相连､使得探针台能够对这些部位进行测量｡通常情况下､探针卡板 ...

对于集成电路晶圆测试来说､通常要经过以下几个工艺步骤￤1.合格晶圆接收；2.晶圆烘焙；3.晶圆测试； ...

集成电路测试系统在执行过程中､通过以下几个步骤来得出测试结果￤1･测量值记录方法通过探针台等测试收到 ...

集成电路的性能和特性主要受到电路设计和制造工艺的影响､同时也与电路的工作条件､如电源电压､环境温度等 ...

集成电路缺陷､故障和失效是集成电路设计和制造过程中的重要概念｡在研发阶段用探针台来检测是比较常见的｡ ...

光谷薄膜作为探针台､冷热台､液氮低温恒温器设备研发制造商､业密切关注着集成电路产业发展动态､为个高校 ...

在产业链中､集成电路测试可分为两大类别￤集成电路晶圆测试和集成电路成品测试､这两者主要依据所处的产业 ...

集成电路测试是验证设计､控制工艺､管理生产､保证质量､分析失效以及指导应用等的重要手段｡集成电路测试 ...

集成电路测试原理如图所示｡图中､待测电路DUT(Device Under Test)可以是集成电路晶 ...

经过测试机､晶圆探针台等设备对集成电路晶圆测试后､还有封装后的集成电路成品测试｡成品测试工厂是基于成 ...